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      產(chǎn)品資料
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      日本napson2探針法擴散電阻測試儀

      產(chǎn)品名稱: 日本napson2探針法擴散電阻測試儀
      產(chǎn)品型號: SRS-2010
      產(chǎn)品特點: 日本napson2探針法擴散電阻測試儀
      可以獲得樣品的深度方向上的電阻分布,外延層的厚度,PN結(jié)的深度以及載流子濃度分布。
      可以從幾平方毫米的區(qū)域分析幾百微米的圖案區(qū)域。
      根據(jù)測得的擴展電阻,使用校準曲線計算電阻

      日本napson2探針法擴散電阻測試儀 的詳細介紹

      日本napson2探針法擴散電阻測試儀

       

      測量規(guī)格

      測量目標

      與半導體/太陽能電池相關(guān)的材料(硅,多晶硅,SiC等)

      測量尺寸

      *請聯(lián)系我們。

      測量范圍

      1-10E + 9(Ω)[擴展電阻]

      施加電壓:10(mV)檢測電流:10(pA)至10(mA)

      測量規(guī)格

      測量目標

      與半導體/太陽能電池相關(guān)的材料(硅,多晶硅,SiC等)

      測量尺寸

      *請聯(lián)系我們。

      測量范圍

      1-10E + 9(Ω)[擴展電阻]

      施加電壓:10(mV)檢測電流:10(pA)至10(mA)

      測量規(guī)格

      測量目標

      與半導體/太陽能電池相關(guān)的材料(硅,多晶硅,SiC等)

      測量尺寸

      *請聯(lián)系我們。

      測量范圍

      1-10E + 9(Ω)[擴展電阻]

      施加電壓:10(mV)檢測電流:10(pA)至10(mA)

      測量規(guī)格

      測量目標

      與半導體/太陽能電池相關(guān)的材料(硅,多晶硅,SiC等)

      測量尺寸

      *請聯(lián)系我們。

      測量范圍

      1-10E + 9(Ω)[擴展電阻]

      施加電壓:10(mV)檢測電流:10(pA)至10(mA)

      測量規(guī)格

      測量目標

      與半導體/太陽能電池相關(guān)的材料(硅,多晶硅,SiC等)

      測量尺寸

      *請聯(lián)系我們。

      測量范圍

      1-10E + 9(Ω)[擴展電阻]

      施加電壓:10(mV)檢測電流:10(pA)至10(mA)

      測量規(guī)格

      測量目標

      與半導體/太陽能電池相關(guān)的材料(硅,多晶硅,SiC等)

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      1-10E + 9(Ω)[擴展電阻]

      施加電壓:10(mV)檢測電流:10(pA)至10(mA)

      日本napson2探針法擴散電阻測試儀

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