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      產(chǎn)品資料
      首頁 >>> 產(chǎn)品中心 >>>  >>> 分析儀器 >>> Cresbox日本napson階段集成式半自動(dòng)四探針測量儀

      日本napson階段集成式半自動(dòng)四探針測量儀

      產(chǎn)品名稱: 日本napson階段集成式半自動(dòng)四探針測量儀
      產(chǎn)品型號(hào): Cresbox
      產(chǎn)品特點(diǎn): 日本napson階段集成式半自動(dòng)四探針測量儀
      產(chǎn)品特點(diǎn)
      用于圓/方測量的可編程測量模式和繪圖軟件
      自檢功能,測量范圍廣
      厚度/周邊位置/溫度校正功能(用于硅)
      薄層電阻/金屬膜厚顯示功能

      日本napson階段集成式半自動(dòng)四探針測量儀 的詳細(xì)介紹

      日本napson階段集成式半自動(dòng)四探針測量儀

       

      測量規(guī)格

      測量對(duì)象

      • 與半導(dǎo)體/太陽能電池材料有關(guān)(硅,多晶硅,SiC等)
      • 新材料/功能材料(碳納米管,DLC,石墨烯,銀納米線等)
      • 導(dǎo)電薄膜相關(guān)(金屬,ITO等)
      • 擴(kuò)散樣品硅外延,離子注入樣品
      • 其他(*請(qǐng)聯(lián)系我們)

      測量尺寸

      ?8英寸,或?156x156mm

       

      測量范圍

      [電阻率(電阻率)] 1 m至300 kΩ·cm 
      [板電阻] 5 m至10 MΩ/ sq

       

      傳單

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      映射圖像

      • 半自動(dòng)類型<br />(多點(diǎn)測量系統(tǒng)[包括軟件+ PC])
      • 半自動(dòng)類型<br />(多點(diǎn)測量系統(tǒng)[包括軟件+ PC])
      • 半自動(dòng)類型<br />(多點(diǎn)測量系統(tǒng)[包括軟件+ PC])
      • 半自動(dòng)類型<br />(多點(diǎn)測量系統(tǒng)[包括軟件+ PC])

      高規(guī)格類型的電阻率(比電阻)/薄層電阻半自動(dòng)四探針法測量儀器

      產(chǎn)品名稱:RT-3000 / RG-2000(RG-3000)

      產(chǎn)品圖片(可根據(jù)客戶要求進(jìn)行各種定制)

      • 半自動(dòng)類型<br />(多點(diǎn)測量系統(tǒng)[包括軟件+ PC])
      • 半自動(dòng)類型<br />(多點(diǎn)測量系統(tǒng)[包括軟件+ PC])
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      產(chǎn)品特點(diǎn)

      • 具有世界醉高電阻測量范圍的4探針測量儀
      • 用于圓/方測量的可編程測量模式和繪圖軟件
      • 自檢功能,厚度/周邊位置/溫度校正功能(用于硅)
      • 根據(jù)電阻范圍從2種類型的測試儀中選擇
      • (RT-3000(S):寬范圍,RT-3000(H):高電阻范圍)

      測量規(guī)格

      測量對(duì)象

      • 與半導(dǎo)體/太陽能電池材料有關(guān)(硅,多晶硅,SiC等)
      • 新材料/功能材料(碳納米管,DLC,石墨烯,銀納米線等)
      • 導(dǎo)電薄膜相關(guān)(金屬,ITO等)
      • 擴(kuò)散樣本
      • 硅基薄膜(LTPS等),IGZO
      • 硅基外延離子注入樣品
      • 其他(*請(qǐng)聯(lián)系我們)

      測量尺寸

      ?8英寸,或?156x156mm 

      ?選件(兼容大直徑尺寸:RG-3000型):?12英寸,?210×210mm

       

      測量范圍

      ①RT-3000(S);
      [電阻率(電阻率)] 100μ- 1MΩ·cm 
      [層電阻] 1m- 
      10MΩ / sq②RT-3000(H);
      [層電阻] 10m-1GΩ/ sq

       

      傳單

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      映射圖像

      • 半自動(dòng)類型<br />(多點(diǎn)測量系統(tǒng)[包括軟件+ PC])
      • 半自動(dòng)類型<br />(多點(diǎn)測量系統(tǒng)[包括軟件+ PC])
      • 半自動(dòng)類型<br />(多點(diǎn)測量系統(tǒng)[包括軟件+ PC])
      • 半自動(dòng)類型<br />(多點(diǎn)測量系統(tǒng)[包括軟件+ PC])

      平板(液晶等)電阻率(比電阻)/薄層電阻的半自動(dòng)測量

      商品名稱:RG-100PV

      產(chǎn)品圖片(可根據(jù)客戶要求進(jìn)行各種定制)

      • 半自動(dòng)類型<br />(多點(diǎn)測量系統(tǒng)[包括軟件+ PC])
      • 半自動(dòng)類型<br />(多點(diǎn)測量系統(tǒng)[包括軟件+ PC])
      • 半自動(dòng)類型<br />(多點(diǎn)測量系統(tǒng)[包括軟件+ PC])
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      產(chǎn)品特點(diǎn)

      • 用于玻璃基板上薄膜的4探針半自動(dòng)測量儀
      • XY軸機(jī)械平臺(tái)
      • 對(duì)于平面內(nèi)多點(diǎn)測量,均勻螺距或隨機(jī)螺距的可選設(shè)置,已安裝2-D / 3-D映射軟件

      測量規(guī)格

      測量對(duì)象

      • 與半導(dǎo)體/太陽能電池材料有關(guān)(硅,多晶硅,SiC等)
      • 新材料/功能材料(碳納米管,DLC,石墨烯,銀納米線等)
      • 導(dǎo)電薄膜相關(guān)(金屬,ITO等)
      • 擴(kuò)散樣品硅薄膜(LTPS等),IGZO
      • 硅基外延離子注入樣品
      • 與化合物半導(dǎo)體有關(guān)的(GaAs,Epi,GaN,Epi,InP,Ga等)
      • 其他(*請(qǐng)聯(lián)系我們)

      測量尺寸

      大300 x 300毫米(可選;大500 x 500毫米)

       

      測量范圍

      [電阻率(比電阻)] 1 m至200Ω·cm 
      [板電阻] 1 m至1,000kΩ/ sq(可選;醉高10 MΩ/ sq)

      日本napson階段集成式半自動(dòng)四探針測量儀

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