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      技術(shù)文章

      透明或者半透明薄膜的膜厚測(cè)量系統(tǒng)運(yùn)用技術(shù)

      透明或者半透明薄膜的膜厚測(cè)量系統(tǒng)運(yùn)用技術(shù)

      一種行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)、價(jià)格低廉、用途廣泛的臺(tái)式薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng),已安裝了 5,000 多臺(tái)。它可用于從研發(fā)到生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)在線測(cè)量的廣泛應(yīng)用。
      F20可以在1秒左右輕松測(cè)量透明或半透明薄膜的膜厚、折射率和消光系數(shù)。
      它還支持多點(diǎn)在線測(cè)量,并支持RS-232C和TCP/IP等外部通信,因此可以從PLC或上位機(jī)控制。

       

      主要特點(diǎn)

      • 支持廣泛的薄膜厚度(1 nm 至 250 μm)

      • 支持寬波長(zhǎng)范圍(190nm 至 1700nm)

      • 強(qiáng)大的膜厚分析

      • 光學(xué)常數(shù)分析(折射率/消光系數(shù))

      • 緊湊型外殼

      • 支持在線測(cè)量

      主要用途

      平板 單元間隙、聚酰亞胺、ITO、AR薄膜、
      各種光學(xué)薄膜等
      半導(dǎo)體 抗蝕劑、氧化膜、氮化膜、非晶/多晶硅等
      光學(xué)鍍膜 減反射膜、硬涂層等
      薄膜太陽(yáng)能電池 CdTe、CIGS、非晶硅等
        砷化鋁鎵(AlGaAs)、磷化鎵(GaP)等
      醫(yī)療保健 鈍化、藥物涂層等


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